设备原理

　　X射线的波长与晶体中原子平面之间的距离相似。该晶体可用作X射线的空间衍射光栅。当一束X射线照射一个物体时，它被物体中的原子散射。每个原子产生散射波。这些波相互干扰，产生衍射。衍射波叠加的结果引起辐射。线的强度在某些方向上增加，在其他方向上减少。通过对衍射结果的分析，可以得到晶体结构。

　　用途及功能

　　一、 结晶度分析

　　通过求出总的积分面积和非晶漫散峰的面积我们可以得到材料材料的结晶度。

　　二、 晶粒大小分析

　　通过对XRD衍射峰的分析，利用谢乐公式，我们可以计算得到晶粒尺寸的大小。

　　三、 薄膜的物相鉴定-X射线掠入法

　　常规的X射线可以穿透几个微米，但是当薄膜样品薄膜厚度只有几十纳米甚至几纳米时，常规的反射法测试基地的信号会对薄膜的信号产生干扰，X射线掠入射法正是把入射X射线以与样品表面近于平行的方式入射，使X射线的穿透深度降低与样品表面的作用面积增大，从而只测得薄膜的信号。

　　四、结晶状态分析

　　对于结晶状态的物质和非晶态的物质，在XRD的谱图中，衍射峰有明显的曲别，结晶程度越差，衍射峰呈漫散状，因此可直接通过衍射峰的峰形来判断物质的结晶状态。

　　五、 物相的定性分析

　　由于每种晶体结构与其X射线衍射谱图之间都有一一对应的关系，且不会因为与其他物质混合而使其特征谱图发生变化，以此为依据X射线衍射就可用于物相的定性分析。在应用中，当对某种材料进行物相分析时，我们通常物质的X射线衍射图与数据库中的标准衍射花样图谱进行比对，从而判断物相的组成。

　　以上内容就是我为大家总结的X射线衍射仪设备的介绍，相信大家经过我的介绍，已经解答了各位心中的疑惑或者问题。