我们知道在当前多目标地球化学调查样品中要求分析54 个元素，与以往 1 : 20 区域化探样样品中 39 个元素的分析，增加了 15 个组分，其中 C、N、S、Cl 、Br、Sc、Ga、Rb 等元素列于其中。在这些元素的测定中，C、N 和 S 用 燃烧法；Cl、Br 用 离子色 谱法；Hf、Ga、Cl 等元素也要经过复杂 的化学处理，不但要占用大量的人力和设备，而且成本高，耗时太长，不能适合大批量样品的测定要求。据伊
手持式XRF矿石元素分析仪分析仪不支持在地质样品中直接低水平测量Au（例如，低ppm和ppb）。基于实验室的火试验技术通常被认为是Au分析的首选方法。Au L级X射线位于X射线荧光能谱的非常拥挤的区域中。在该部分光谱中，来自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干扰可以产生假阳性Au测定。
造山金 S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg；
高硫化浅成热液 Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn；
低硫化浅成低温热液 Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au；卡林型 As, Sb, Hg, Tl；
斑岩铜金 Cu, Pb, Zn, Ag；Au Skarns Bi, Te, As, Co；
侵入性相关金 Bi, W, As, Sb, Mo, Te；VHMS Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2；氧化铁 Cu-Au (U) F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE高纯度的金 高纯度的 Au +/– 以上任何一种
奥林巴斯X射线荧光（XRF）矿石分析仪提供高性能的实时地球化学数据，用于土壤重金属，岩石成分和矿石品位和元素含量的分析。奥林巴斯X射线荧光（XRF）矿石分析仪技术的最新进展增加了测量元素的数量，提高了检测限，并缩短了分析测试时间。
1.通过XRF矿石元素分析仪分析土壤重金属，岩石和矿石中的元素，快速显示潜在的Au矿分布情况；
2.通过使用XRF矿石元素分析仪预筛选样品，优先样品选择，分析预算和选定钻孔目标；
3.通过XRF矿石元素分析仪绘制结构特征图，建模和矢量化，减少稀释和做好金矿的回收；
4.通过使用XRF矿石元素分析仪进行岩石地球化学的简单和快速岩石类型分析。
