奥林巴斯手持金属多元素成分分析光谱仪测样均匀性和采样误差特点

在使用手持式XRF分析仪时,确保样本的均匀性是用户的责任。解决均匀性问题的一个简单方法是进行多次检测并获得平均值。谢天谢地!XRF分析仪可以相对容易地实施这种方法,因为XRF分析仪通常可以迅速方便地完成检测。
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任何分析技术的基本原则都会包含这样一条:在观察“视野”中放入的任何样本都必须能够代表被测物品。技术人员为了获取少量的子样本,需要花费大量的精力,采用干燥、碾碎、筛选和混合等实验室技术对样本进行制备。获得的子样本被放入酸中消化,然后可以使用分析仪进行检测。可以说此时的样本完全具有均匀性。


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在使用手持式XRF分析仪时,确保样本的均匀性是用户的责任。解决均匀性问题的一个简单方法是进行多次检测并获得平均值。谢天谢地!XRF分析仪可以相对容易地实施这种方法,因为XRF分析仪通常可以迅速方便地完成检测。



实验室检测既昂贵又耗时,因此通常只能分析少量样本。许多用户还会忘记对以下假设进行确认:几个样本是否可以代表更大的整体。让我们来看一看图1。在这个土壤修复项目中,实验室仅采集并分析了38个样本。即使实验室检测完全准确,这种采样策略也会产生较大的误差。图中正方形场地一侧的土壤与其另一侧的土壤可能会有很大的差异。而使用XRF分析仪进行1000多次检测所获得的结果,可以更清楚地表明场地中需要进行土壤修复的位置。

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在不移动分析仪的情况下,对准样本上的一个部位连续进行5次检测,然后比较5次检测所获得统计数据的变化。接下来,在这个样本的5个不同部位以相同的持续时间再分别进行1次检测,并比较5次检测所获得统计数据的变化。如果两种检测情况下所得到的统计数据的变化一样,则说明样本具有均匀性。


 
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